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Oblea de SiC tipo N de 6 pulgadas
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Oblea de SiC tipo N de 6 pulgadas

Semicorex ofrece varios tipos de obleas de SiC 4H y 6H. Somos fabricantes y proveedores de obleas desde hace muchos años. Nuestra oblea de SiC tipo N de 6 pulgadas con doble pulido tiene una buena ventaja de precio y cubre la mayoría de los mercados europeos y americanos. Esperamos convertirnos en su socio a largo plazo en China.

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Descripción del Producto

Semicorex tiene una línea completa de productos de obleas de carburo de silicio (SiC), que incluye sustratos 4H y 6H con obleas semiaislantes tipo N, tipo P y de alta pureza, que pueden ser con o sin epitaxia. Nuestro sustrato de SiC (carburo de silicio) tipo N de 4 pulgadas es un tipo de oblea de alta calidad hecha de un solo cristal de carburo de silicio con un dopaje tipo N, que tiene doble pulido.

La oblea de SiC tipo N de 6 pulgadas se utiliza principalmente en vehículos de nueva energía, transmisión y subestaciones de alto voltaje, electrodomésticos, trenes de alta velocidad, motores eléctricos, inversores fotovoltaicos, fuentes de alimentación pulsadas y otros campos, que tienen las ventajas de reducir el equipo. pérdida de energía, mejora de la confiabilidad del equipo, reducción del tamaño del equipo y mejora del rendimiento del equipo, y tienen ventajas irremplazables en la fabricación de dispositivos electrónicos de potencia.

Elementos

Producción

Investigación

Ficticio

Parámetros de cristal

politipo

4H

Error de orientación de la superficie

<11-20 >4±0,15°

Parámetros eléctricos

dopante

Nitrógeno tipo n

Resistividad

0.015-0.025ohm·cm

Parámetros mecánicos

Diámetro

150,0 ± 0,2 mm

Espesor

350±25 micras

Orientación plana primaria

[1-100]±5°

Longitud plana primaria

47,5 ± 1,5 mm

piso secundario

Ninguno

televisión

≤5 micras

≤10 micras

≤15 micras

TVL

≤3 micras(5mm*5mm)

≤5 micras(5mm*5mm)

≤10 micras(5mm*5mm)

Arco

-15 μm ~ 15 μm

-35 μm ~ 35 μm

-45 μm ~ 45 μm

Urdimbre

≤35 micras

≤45 micras

≤55 micras

Rugosidad frontal (Si-face) (AFM)

Ra≤0.2nm (5μm*5μm)

Estructura

Densidad de microtubos

<1 unidad/cm2

<10 c/cm2

<15 c/cm2

Impurezas metálicas

≤5E10átomos/cm2

ESO

TLP

≤1500 unidades/cm2

≤3000 unidades/cm2

ESO

TSD

≤500 unidades/cm2

≤1000 unidades/cm2

ESO

Calidad frontal

Frente

Y

Acabado superficial

CMP de cara Si

Partículas

≤60ea/oblea (tamaño≥0,3μm)

ESO

Arañazos

≤5ea/mm. Longitud acumulada ≤Diámetro

Longitud acumulada≤2*Diámetro

ESO

Piel de naranja/huevos/manchas/estrías/grietas/contaminación

Ninguno

ESO

Descantillados/hendiduras/fracturas/placas hexagonales

Ninguno

Áreas politipo

Ninguno

Área acumulada≤20%

Área acumulada≤30%

Marcado láser frontal

Ninguno

Calidad trasera

Acabado trasero

CMP cara C

Arañazos

≤5ea/mm, longitud acumulada≤2*Diámetro

ESO

Defectos posteriores (descantillados/hendiduras en los bordes)

Ninguno

Rugosidad de la espalda

Ra≤0.2nm (5μm*5μm)

Marcado láser trasero

1 mm (desde el borde superior)

Borde

Borde

Chaflán

Embalaje

Embalaje

Epi-ready con envasado al vacío

Envasado de casetes de obleas múltiples

*Notas: "NA" significa sin solicitud. Los artículos no mencionados pueden referirse a SEMI-STD.





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