Semicorex ofrece varios tipos de obleas de SiC 4H y 6H. Somos fabricantes y proveedores de obleas desde hace muchos años. Nuestra oblea de SiC tipo N de 6 pulgadas con doble pulido tiene una buena ventaja de precio y cubre la mayoría de los mercados europeos y americanos. Esperamos convertirnos en su socio a largo plazo en China.
Semicorex tiene una línea completa de productos de obleas de carburo de silicio (SiC), que incluye sustratos 4H y 6H con obleas semiaislantes tipo N, tipo P y de alta pureza, que pueden ser con o sin epitaxia. Nuestro sustrato de SiC (carburo de silicio) tipo N de 4 pulgadas es un tipo de oblea de alta calidad hecha de un solo cristal de carburo de silicio con un dopaje tipo N, que tiene doble pulido.
La oblea de SiC tipo N de 6 pulgadas se utiliza principalmente en vehículos de nueva energía, transmisión y subestaciones de alto voltaje, electrodomésticos, trenes de alta velocidad, motores eléctricos, inversores fotovoltaicos, fuentes de alimentación pulsadas y otros campos, que tienen las ventajas de reducir el equipo. pérdida de energía, mejora de la confiabilidad del equipo, reducción del tamaño del equipo y mejora del rendimiento del equipo, y tienen ventajas irremplazables en la fabricación de dispositivos electrónicos de potencia.
Elementos |
Producción |
Investigación |
Ficticio |
Parámetros de cristal |
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politipo |
4H |
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Error de orientación de la superficie |
<11-20 >4±0,15° |
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Parámetros eléctricos |
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dopante |
Nitrógeno tipo n |
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Resistividad |
0.015-0.025ohm·cm |
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Parámetros mecánicos |
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Diámetro |
150,0 ± 0,2 mm |
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Espesor |
350±25 micras |
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Orientación plana primaria |
[1-100]±5° |
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Longitud plana primaria |
47,5 ± 1,5 mm |
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piso secundario |
Ninguno |
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televisión |
≤5 micras |
≤10 micras |
≤15 micras |
TVL |
≤3 micras(5mm*5mm) |
≤5 micras(5mm*5mm) |
≤10 micras(5mm*5mm) |
Arco |
-15 μm ~ 15 μm |
-35 μm ~ 35 μm |
-45 μm ~ 45 μm |
Urdimbre |
≤35 micras |
≤45 micras |
≤55 micras |
Rugosidad frontal (Si-face) (AFM) |
Ra≤0.2nm (5μm*5μm) |
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Estructura |
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Densidad de microtubos |
<1 unidad/cm2 |
<10 c/cm2 |
<15 c/cm2 |
Impurezas metálicas |
≤5E10átomos/cm2 |
ESO |
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TLP |
≤1500 unidades/cm2 |
≤3000 unidades/cm2 |
ESO |
TSD |
≤500 unidades/cm2 |
≤1000 unidades/cm2 |
ESO |
Calidad frontal |
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Frente |
Y |
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Acabado superficial |
CMP de cara Si |
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Partículas |
≤60ea/oblea (tamaño≥0,3μm) |
ESO |
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Arañazos |
≤5ea/mm. Longitud acumulada ≤Diámetro |
Longitud acumulada≤2*Diámetro |
ESO |
Piel de naranja/huevos/manchas/estrías/grietas/contaminación |
Ninguno |
ESO |
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Descantillados/hendiduras/fracturas/placas hexagonales |
Ninguno |
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Áreas politipo |
Ninguno |
Área acumulada≤20% |
Área acumulada≤30% |
Marcado láser frontal |
Ninguno |
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Calidad trasera |
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Acabado trasero |
CMP cara C |
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Arañazos |
≤5ea/mm, longitud acumulada≤2*Diámetro |
ESO |
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Defectos posteriores (descantillados/hendiduras en los bordes) |
Ninguno |
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Rugosidad de la espalda |
Ra≤0.2nm (5μm*5μm) |
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Marcado láser trasero |
1 mm (desde el borde superior) |
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Borde |
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Borde |
Chaflán |
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Embalaje |
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Embalaje |
Epi-ready con envasado al vacío Envasado de casetes de obleas múltiples |
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*Notas: "NA" significa sin solicitud. Los artículos no mencionados pueden referirse a SEMI-STD. |